Nicklas Giese
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Doktorand
AG Mews
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Schwerpunkte
- Elektrische Charakterisierung der Ladungstrennung in einer Halbleiter-Metall-Hybridstruktur.
- Kombinierte optische und atomare Kraftmikroskopie in einem Aufbau.
- Elektronenstrahl- und optische Lithographie zur Erzeugung von definierten Strukturen.
Forschungsthema
Nicklas Giese untersucht die Ladungsträgerdynamik in individuellen Halbleiter-Metall-Hybrid-Strukturen, wie z.B. metallbestückten dot-in-rod Partikeln. Die Ladungsträger werden mit optischen und rasterkraftmikroskopischen (AFM) Methoden in einem Aufbau charakterisiert.
Optische Anregung von unten und gleichzeitige elektrische AFM-Methoden, wie elektrostatische Kraftmikroskopie (EFM) und Kelvinsonden-Kraftmikroskopie (KPFM), werden zur lokalen elektrischen Charakterisierung durchgeführt. Die Messungen geben Aufschluss über verschiedene Parameter des Ladungsträgertransports, z. B. die spezifische Leitfähigkeit oder die Ladungsträgerkonzentration.
Die optische Charakterisierung erfolgt über spektroskopische Messungen der Einzelteilchen-Photolumineszenz (PL). Dabei kann die Einbringung einer Platinspitze mit der Abnahme der PL-Intensität von CdS korreliert werden, was detaillierte Informationen über die Ladungsträgertrennung liefert.
A) Schematischer Überblick über den Aufbau
B) PL-Scan eines Platnium-Markers und emittierender Partikel
C) AFM-Aufnahme desselben Abschnitts