Technologietransfer

Im Zentrum unser unserer experimentellen Aktivitäten stehen selbstgebaute konfokale Laser-Scanning Mikroskope, die wir auf optischen Tischen mit spektroskopischen Komponenten vereinen. Die Hauptmessmethode ist die Fluoreszenzspek-troskopie, aber auch Raman- oder Reflektionsspektroskopie ist möglich. Das Licht verschiedenster Laser vornehmlich im sichtbaren aber auch im IR Spektrahlbereich wird mit Hilfe kommerzieller Objektive auf eine beugungslimitierten Bereich weniger hundert Nanometer fokussiert, um ein entsprechend hohe örtliche Auflösung zu erzielen. Die Objektive mit hoher nummerischer Apertur erlauben dann ein hocheffizientes Einsammeln des von der Probe emittierten bzw. zurückgestreuten Lichts. Der offene Aufbau auf dem optischen Tisch erlaubt einerseits eine vielseitige Analyse des Lichts: Dies kann eine spektrale Analyse mit hoher spektraler Auflösung mittels rauscharmer CCD Detektoren oder unter Verwendung von gepulsten Lasern die Messungen von Fluoreszenzabklingkurven mittels zeitkorreliertem Einzelphotonenzählen sein. Unser Streakkamerasystem ermöglicht hier neben der simultanen spektral- und zeitaufgelösten Fluoreszenzmessung sogar eine besonders hohe Zeitauflösung von >2 ps. Andererseits lassen sich die spektroskopischen Methoden mit anderen Messmethoden kombinieren und teils sogar simultan durchführen. Diese können die Rasterkraftmikroskopie für Messungen der Topographie (AFM), des Ladungskontrasts (EFM) oder der Kontaktpotentialdiferenz (KPFM) oder aber auch Fotostrom bzw. Fotospannungsmessungen. Durch Einsatz eines geeigneten Reaktors können auch elektrochemische Messungen simultan durchgeführt werden.

 Zum Einen erlaubt die Korrelation von Karten veschiedener Probeneigenschaften mit hoher örtlicher Auflösung häufig neue Erkenntnisse zum anderen können durch einen  veränderten Zusammenbau einzelner Komponenten eine neue Messmethode entstehen. Mit unserer Infrastruktur und unserem Knowhow können wir derartige Projekte zu unterstützen.

Ansprechpartner:

Prof. Dr. Alf Mews

Tel.: +49 40 42838-3431
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E-Mail: Alf.Mews@uni-hamburg.de